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            HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪

            核心参数

            • 产地类别 进口
            • 测量时间2min
            • 分辨率
            • 测量范围0.3nm ~ 10μm
            • 重现性+-2%
            • 分散方式 湿法分散
            • 仪器种类 动态光散射

            HORIBA 科学仪器事业部 查看联系方式

            • 营业执照已审核
            • 品牌性质生产商
            • 白金会员第19年
            • 信用积分4451
            • 反馈速度21-24小时
            • 同类仪器3台
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            HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 产品介绍 相关资料 相关新闻 用户评论

            产品介绍

            SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具,如颗粒粒径、zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定;还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。


            SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。


            产品特点


            ·  同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数

            ·  宽检测范围,宽浓度范围——样品浓度可达40%

            ·  自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

            ·  软件操作简单功能强大,一键测量

            ·  双光路双角度粒径测量(90° 和173°)

            ·  采用微量样品池


            技术参数


            粒径测量原理:动态光散射法(光子相关光谱法)

            粒径测定范围:0.3nm ~10μm

            粒径测量精度:±2%(NIST 可溯源标准粒子100nm)

            Zeta 电位测量原理:激光多普勒电泳法

            Zeta 电位测量范围:-500 mV ~ +500 mV

            分子量测量原理:Debye plot

            分子量测量范围:1000 ~ 2×107 Da

            测量角度:90° 和173°(可自动或手动选择)

            样品量:12μL ~ 1000μL

            HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪信息由HORIBA 科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

            注:对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况。

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